Contactloze 3D oppervlaktekarakterisatie
Voor het karakteriseren van precisiegefabriceerde en functionele of geavanceerde oppervlakken in detail en 3D is meettechnologie nodig die betrouwbaar, snel en nauwkeurig is.
Het garanderen van functionaliteit en het in een vroeg stadium detecteren van defecten voorkomt onnodige kosten en verhoogt de algehele productkwaliteit en levensduur.
TopMap van Polytec richt zich op toepassingen voor oppervlaktemeting met innovatieve, uiterst nauwkeurige, contactloze optische technologie die werkt op ruwe, gladde en getrapte oppervlakken. Witlicht interferometers van de TopMap sensor familie zijn gevestigde optische kwaliteitsinspectietools voor het controlelaboratorium, in productieomgevingen of in-line.
Producten bekijken
Neem contact met ons op voor meer informatie of vraag een demo aan
POLYTEC opMap Micro.View
TopMap Micro.View® is een gebruiksvriendelijke en compacte optische profiler.
Kies Micro.View® als de kosteneffectieve oplossing voor kwaliteitscontrole voor oppervlakteanalyse van precisietechniek, voor het inspecteren van ruwheid, microstructuren en meer oppervlaktedetails.
Meer informatie
POLYTEC TopMap Micro.View+
TopMap Micro.View®+ is de volgende generatie optische oppervlakteprofielen in een modulair ontwerp om de meest uitdagende analysetaken met betrekking tot oppervlakteafwerking en
microstructuren met uiterste precisie te meten.
Focus Finder en Focus Tracker helpen om de monsters altijd scherp te houden, met volledig gemotoriseerde positioneringseenheden die klaar zijn voor automatisering.
Meer informatie
POLYTEC TopMap Pro.Surf.
Ideaal voor snelle en nauwkeurige 3D oppervlaktekarakterisering.
De oppervlaktemeting van de TopMap Pro.Surf zorgt ervoor dat u geen enkel detail mist bij het inspecteren van uw werkstukoppervlak.
Korte meettijden en een groot gezichtsveld kenmerken de TopMap Pro.Surf.
Meer informatie
POLYTEC TopMap Pro.Surf+
De alles-in-één 3D optische oppervlakteprofilering van Polytec.
De precisie van een witlichtinterferometer, aangevuld met chromatische confocale sensoren om vormafwijkingen en eventuele ruwheid te bepalen met één apparaat.
Pro.Surf+ meet topografie over een groot gebied en karakteriseert zo structuren met nanometerresolutie.
Meer informatie
POLYTEC TopMap Metro.Lab
Als compleet meetstation is de TopMap Metro.Lab ideaal geschikt voor topografieën van grote oppervlakken op bijna alle oppervlakken.
Omdat hij veel waar voor zijn geld biedt, is hij ook aantrekkelijk voor kleinere bedrijven met minder taken.
Meer informatie
